[发明专利]一种等离子处理器、刻蚀均匀性调节系统及方法有效

专利信息
申请号: 201611165614.0 申请日: 2016-12-16
公开(公告)号: CN108206143B 公开(公告)日: 2020-09-25
发明(设计)人: 梁洁;涂乐义;吴磊;叶如彬 申请(专利权)人: 中微半导体设备(上海)股份有限公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67
代理公司: 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 代理人: 潘朱慧
地址: 201201 上海市浦东新*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种刻蚀均匀性调节系统,包含若干反馈调节装置以及一连接反馈调节装置的计算控制单元;每个反馈调节装置分别包含:电流监视器,安装在等离子体反应腔的限制环与接地环之间,并连接所述的计算控制单元;主动升降机,安装在等离子体反应腔的限制环与接地环之间并位于上述电流监视器的对应位置;计算控制单元通过若干电流监视器获取限制环与接地环之间各区域的电流分布大小控制主动升降机调节限制环与接地环之间的间隙。其优点是:通过主动升降机和电流监视器的共同作用,实现对等离子体分均匀性的实时主动反馈控制。
搜索关键词: 一种 等离子 处理器 刻蚀 均匀 调节 系统 方法
【主权项】:
1.一种刻蚀均匀性调节系统,连接一等离子处理器,该等离子处理器包含一等离体子反应腔,该等离子体反应腔内具有通过一用于放置晶圆的基座,基座与反应腔侧壁之间具有限制环(1)与接地环(2),其中限制环(1)上具有多个气体通道用于将等离子体限制在限制环上方,接地环由导体制成并且电接地,其特征在于,该刻蚀均匀性调节系统包含若干反馈调节装置以及一连接上述反馈调节装置的计算控制单元(3);其中,每个所述的反馈调节装置分别包含:电流监视器(41),安装在等离子体反应腔的限制环(1)与接地环(2)之间,并连接所述的计算控制单元(3),用于对流过其所在区域的限制环(1)与接地环(2)之间的电流进行监视;主动升降机(42),安装在等离子体反应腔的限制环(1)与接地环(2)之间并位于上述电流监视器(41)的对应位置,用于对上述电流监视器所在区域的限制环(1)与接地环(2)之间的间隙进行调整;其中,计算控制单元(3)通过若干电流监视器(41)根据获取得到的限制环(1)与接地环(2)之间各区域的电流分布大小控制主动升降机(42)调节限制环(1)与接地环(2)之间的间隙。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中微半导体设备(上海)股份有限公司,未经中微半导体设备(上海)股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201611165614.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top