[发明专利]用于构件的定位系统及方法有效
| 申请号： | 201611167111.7 | 申请日： | 2016-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN106969734B | 公开（公告）日： | 2021-02-19 |
| 发明（设计）人： | Y.E.奥斯特克;S.H.伊奇利;M.于瓦拉克利奥卢;B.J.杰曼;J.L.伯恩塞德 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01B21/00 | 分类号： | G01B21/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 严志军;傅永霄 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 提供了一种用于构件(10)的定位系统(100)和方法(200)。构件(10)具有外表面(11)。方法(200)包括通过分析构件(10)的图像(212)以获得表面特征(30)的X轴线数据点(214)和Y轴线数据点(216)来沿X轴线(50)和Y轴线(52)定位配置在外表面(11)上的表面特征(30)。方法(200)还包括沿Z轴线(54)直接地测量表面特征(30)，以获得表面特征(30)的Z轴线数据点(222)，其中X轴线(50)、Y轴线(52)和Z轴线(54)相互正交。方法(200)还包括计算表面特征(30)的纵倾值(234)、侧倾值(232)或横摆值(64)中的至少两个。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 构件 定位 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种用于构件(10)的定位方法(200)，所述构件(10)具有外表面(11)，所述方法(200)包括： 通过分析所述构件的图像(212)以获得表面特征(30)的X轴线数据点(214)和Y轴线数据点(216)来沿X轴线(50)和Y轴线(52)定位配置在所述外表面(11)上的所述表面特征(30)；沿Z轴线(54)直接地测量所述表面特征(30)，以获得所述表面特征(30)的Z轴线数据点(222)，其中所述X轴线(50)、所述Y轴线(52)和所述Z轴线(54)相互正交；以及计算所述表面特征的纵倾值(234)、侧倾值(232)或横摆值(64)中的至少两个。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于通用电气公司，未经通用电气公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201611167111.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
