[发明专利]一种测量硅基液晶相位分辨率的装置及方法

摘要

一种测量硅基液晶相位分辨率的装置及方法，涉及光通信领域，光信号从环形器的一号端口输入，从二号端口输出后进入单光纤准直器，经准直后的空间光通过透镜后入射到硅基液晶上，硅基液晶的反射光通过透镜耦合到单光纤准直器，再经过环形器第三端口输出至功率计；调节硅基液晶相邻像素间的相位差，同时观察功率计，当功率计的测量值不变时，此时硅基液晶相邻像素间的相位差，即为硅基液晶的相位分辨率；本发明能够降低测量的复杂程度，且测量精度高。

主权项

1.一种测量硅基液晶相位分辨率的装置，其特征在于，包括环形器、单光纤准直器、透镜、硅基液晶和功率计，所述环形器的一号端口用于接收光信号，二号端口用于发送光信号至所述单光纤准直器，所述单光纤准直器和硅基液晶分别位于透镜的前后焦面上，所述硅基液晶用于接收单光纤准直器发来且穿过透镜的空间光，并反射回去，所述单光纤准直器用于接收硅基液晶反射的反射光，并发送给环形器的第三端口，所述功率计用于检测所述第三端口的功率。