[发明专利]用于PTC芯体测温的治具有效
申请号: | 201611170617.3 | 申请日: | 2016-12-16 |
公开(公告)号: | CN108204867B | 公开(公告)日: | 2020-02-07 |
发明(设计)人: | 邵延胜;唐柳平 | 申请(专利权)人: | 比亚迪股份有限公司 |
主分类号: | G01K13/00 | 分类号: | G01K13/00 |
代理公司: | 11201 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 黄德海 |
地址: | 518118 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于PTC芯体测温的治具,所述用于PTC芯体测温的治具包括:绝缘定位组件,所述绝缘定位组件上具有间隔布置的多个芯体定位槽,所述芯体定位槽适于放置PTC芯体;正极测试组件,所述正极测试组件设在所述绝缘定位组件上,所述正极测试组件包括多个正极探测部;负极测试组件,所述负极测试组件设在所述绝缘定位组件上,所述负极测试组件与所述正极测试组件相互电隔离,所述负极测试组件包括多个负极探测部,其中,所述负极探测部和所述正极探测部关于所述芯体定位槽相对分别用于连接放置于所述芯体定位槽内的PTC芯体的正极和负极。根据本发明的用于PTC芯体测温的治具,可实现同时测试多个PTC芯体,提升了PTC芯体的测试效率。 | ||
搜索关键词: | 测试组件 正极 负极 芯体 定位组件 定位槽 治具 绝缘 探测 测试效率 间隔布置 电隔离 测试 | ||
【主权项】:
1.一种用于PTC芯体测温的治具,其特征在于,包括:/n绝缘定位组件,所述绝缘定位组件上具有间隔布置的多个芯体定位槽,所述芯体定位槽适于放置PTC芯体;/n正极测试组件,所述正极测试组件设在所述绝缘定位组件上,所述正极测试组件包括多个正极探测部;/n负极测试组件,所述负极测试组件设在所述绝缘定位组件上,所述负极测试组件与所述正极测试组件相互电隔离,所述负极测试组件包括多个负极探测部;/n其中,所述负极探测部和所述正极探测部关于所述芯体定位槽相对,且分别用于连接放置于所述芯体定位槽内的PTC芯体的正极和负极;/n所述正极测试组件包括沿左右间隔布置的多个沿前后方向延伸的正极探测支杆,所述正极探测支杆上相对固定地设有一个或前后间隔布置的多个所述正极探测部;/n所述负极测试组件包括沿左右间隔布置的多个沿前后方向延伸的负极探针支杆,所述负极探针支杆上相对固定地设有一个或前后间隔布置的多个所述负极探测部,/n其中,多个所述正极探测支杆和多个所述负极探针支杆一一对应且左右交错布置;/n所述负极测试组件还包括:/n导向套,所述导向套设在所述绝缘定位组件上;/n导杆,所述导杆沿左右方向延伸并与多个所述负极探针支杆相对固定地连接,且所述导杆沿左右可滑动地套在所述导向套内;/n多个所述正极探测支杆相互导通,且多个所述负极探针支杆相互导通。/n
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