[发明专利]半导体装置的制作方法有效

专利信息
申请号: 201611187173.4 申请日: 2016-12-20
公开(公告)号: CN107203092B 公开(公告)日: 2022-06-21
发明(设计)人: 赖韦翰;张庆裕 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: G03F1/56 分类号: G03F1/56;G03F1/76
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 张福根
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种半导体装置的制作方法,包括:形成光致抗蚀剂图案于可图案化层上。光致抗蚀剂层包含负型光致抗蚀剂材料。对光致抗蚀剂层进行曝光工艺。对光致抗蚀剂层进行曝光后烘烤工艺。冲洗光致抗蚀剂层以显影光致抗蚀剂图案。施加底漆材料至光致抗蚀剂图案。底漆材料为设置用于使光致抗蚀剂图案轮廓平直化,增加光致抗蚀剂材料的去保护酸敏基团单元数目、或与光致抗蚀剂材料的去保护酸敏基团单元键结。在施加底漆材料后,涂布收缩材料于光致抗蚀剂图案上、烘烤收缩材料、以及移除部分的收缩材料以增大光致抗蚀剂图案。以增大的光致抗蚀剂图案作为掩模,图案化可图案化层。
搜索关键词: 半导体 装置 制作方法
【主权项】:
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