[发明专利]适用于运载火箭电子设备μA级微小电流测试方法

摘要

本发明公开了一种适用于运载火箭电子设备UA级微小电流测试系统及方法，该系统包括电流积分转换电路、信号隔离放大电路、ADC采样电路、控制检测电路，其中：电流积分转换电路，通过积分电路把电流信号转换为可积分的电压信号；信号隔离放大电路，通过第二电压把经过积分后的电压信号与后级采样和运算线路隔离开，同时又等比例放大作用；ADC采样电路，把经过隔离放大电路的输出信号进行采样，采样后的数据送到FPGA芯片进行控制等。本发明能够提供UA级电流测试精度和准确度，以达到运载火箭电爆管控制电路的定性测量的目的，同时进行多路测试，以提高测试效率。

主权项

1.一种适用于运载火箭电子设备μA级微小电流测试方法，其特征在于，使用适用于运载火箭电子设备μA级微小电流测试系统实现，所述适用于运载火箭电子设备μA级微小电流测试系统，包括电流积分转换电路、信号隔离放大电路、ADC采样电路、控制检测电路，其中：电流积分转换电路，通过积分电路把电流信号转换为积分的电压信号；信号隔离放大电路，通过U2把经过积分后的电压信号与后级采样和运算线路隔离开，同时又起等比例放大作用，其中U2为第二电压比较器；ADC采样电路，把经过隔离放大电路的输出信号进行采样，采样后的数据送到FPGA芯片进行控制；控制检测电路，对ADC芯片采集的信号进行处理和运算，并产生T0和T1，其中T0为第一时序信号，T1为第二时序信号；所述电流积分转换电路的计算公式如下式所示；适用于运载火箭电子设备μA级微小电流测试方法包括以下步骤：步骤一，当第一时序信号到来之前，引脚P1为低电平，开关P1闭合，积分电容被短路，此时电压输出为0V，引脚P2为高电平，ADC芯片处于非采样状态；步骤二，当t0≤t≤1ms时，引脚P1由低电平转换到高电平，开关P1打开，积分电路开始积分，同时Uout的电压值的计算公式如下式所示，Uout的电压值随时间的增加而线性增加；步骤三，当t＝t1≤1ms时，由FPGA芯片的引脚P2产生一个低电平脉冲，ADC芯片进行采样，同时FPGA芯片接收ADC芯片采样的数据；步骤四，判断Uout值是否大于3.5V；Uout值不大于3.5V，记录t1＝1ms 的次数，并进行积分，直到Uout值大于3.5V；Uout值大于3.5V时，存储电平值和t＝1ms的次数；步骤五，根据如上式计算公式所示，计算出Iin的值；其中：t0为第一时序信号到来时间；t为所用时间；Uout为电压的输出值；C为电容的容值；Iin为电流的输入值；t1为引脚P2产生低电平脉冲时间；R1、R2：均是U2反馈网络的电阻值。