[发明专利]内存测试方法及装置在审
| 申请号： | 201611218265.4 | 申请日： | 2016-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN108241559A | 公开（公告）日： | 2018-07-03 |
| 发明（设计）人： | 陈小松 | 申请（专利权）人： | 迈普通信技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 张红平 |
| 地址： | 610000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种内存测试方法及装置，涉及计算机领域。其中，该方法包括：加载内存测试代码到缓存；执行所述内存测试代码对内存进行内存测试。该方法及装置使执行的用于内存测试的内存测试代码被加载于缓存中，测试速度更快，测试时间更短。 | ||
| 搜索关键词： | 内存测试 缓存 加载 计算机领域 测试 | ||
【主权项】：
1.一种内存测试方法，其特征在于，所述方法包括：加载内存测试代码到缓存；执行所述内存测试代码对内存进行内存测试。
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