[发明专利]一种高抗干扰性天馈线测试仪控制方法在审
| 申请号： | 201611229367.6 | 申请日： | 2016-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN106712862A | 公开（公告）日： | 2017-05-24 |
| 发明（设计）人： | 叶少强 | 申请（专利权）人： | 广州山锋测控技术有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/10 | 分类号： | H04B17/10;H04B17/20 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司44102 | 代理人： | 陈伟斌 |
| 地址： | 510656 广东省广州市天河*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及天馈线的技术领域，更具体地，涉及一种高抗干扰性天馈线测试仪控制方法。一种高抗干扰性天馈线测试仪控制方法，本发明参考信号及测量信号，经过混频器、陶瓷滤波器及硬件相位比较、功率比较，简单有效地实现并大大提高天馈线测试仪抗干扰性，降低软件的处理难度。将455KHz通用陶瓷滤波器，应用到天馈线测试仪，简单有效地提高天馈线测试仪的抗干扰能力。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 抗干扰 馈线 测试仪 控制 方法 | ||
【主权项】：
一种高抗干扰性天馈线测试仪控制方法，其特征在于，包括以下步骤：S1. 测试RF信号源经过功分器，分为参考RF信号、测试RF信号；S2. 本振LO信号源经过功分器，分为参考LO信号、测试LO信号；S3. 参考RF信号经过衰减器，进行功率调节，通过第一混频器与参考的LO信号混频，再经过第一滤波器，得到参考中频信号IF0；S4. 测试RF信号，经过定向耦合器，接入天馈线测试系统，并耦合出被测系统的反射信号功率，反射信号再通过第二混频器与测试LO信号混频，经过第二滤波器，得到测试中频信号IF1；S5. 参考中频信号IF0和测试中频信号IF1，通过硬件的功率比较器、相位比较器，得到IF0和IF1的功率比及相位差的直流信号Vmag和Vphase；S6. 功率比和相位差直流信号Vmag和Vphase经过低速的ADC采样储存，简单的算法处理，即可得到被测天馈线系统的驻波比、插入损耗及故障点信息。
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