[发明专利]一种铜铟镓硒薄膜太阳电池缓冲层的制备方法在审
申请号: | 201611233778.2 | 申请日: | 2016-12-28 |
公开(公告)号: | CN106784076A | 公开(公告)日: | 2017-05-31 |
发明(设计)人: | 张瀚铭;乔在祥;赵岳;徐睿 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十八研究所 |
主分类号: | H01L31/04 | 分类号: | H01L31/04;H01L31/0352 |
代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司11315 | 代理人: | 刘昕 |
地址: | 300384 天津*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明提供了一种铜铟镓硒薄膜太阳电池缓冲层的制备方法,采用如下技术方案以二乙基锌、H2S、H2O分别作为Zn、S、O的前躯体源,采用原子层沉积方法在加热的衬底上交替沉积ZnO薄膜和ZnS薄膜多次,制备得到Zn(O,S)缓冲层。本发明采用原子层沉积技术制备Zn(O,S)薄膜的铜铟镓硒薄膜太阳电池缓冲层,可以与其他各层干法制备工艺相匹配,成膜致密均匀,有利于内应力的释放,制备过程中对吸收层无破坏影响。通过调节ZnS和ZnO的生长顺序及生长厚度,可以实现不同组分的Zn(O,S)薄膜的铜铟镓硒薄膜太阳电池缓冲层,工艺简单易行,节约生产成本及空间。 | ||
搜索关键词: | 一种 铜铟镓硒 薄膜 太阳电池 缓冲 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种铜铟镓硒薄膜太阳电池缓冲层的制备方法,其特征在于:以二乙基锌、H2S、H2O分别作为Zn、S、O的前躯体源,采用原子层沉积方法在加热的衬底上交替沉积ZnO薄膜和ZnS薄膜多次,制备得到Zn(O,S)缓冲层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
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