[发明专利]一种激光粒度仪及粒度分布测试方法有效
| 申请号： | 201611238081.4 | 申请日： | 2016-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN106644858B | 公开（公告）日： | 2019-12-24 |
| 发明（设计）人： | 党博石;刘英;姜洋;杜杰;邢妍;王天骄 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种激光粒度仪，包括：用于发射激光光束的激光光源；用于盛放待测样品的样品池；用于接收所述激光光束穿过所述待测样品后产生的散射光，并将其转换为散射光能量分布图的，表面设置有圆环掩膜板的电荷耦合光电探测器；用于根据所述散射光能量分布图计算所述待测样品的粒度分布的计算器。本发明使用圆环掩膜板的目的是更加直观的获取接收散射光的各个像素点对应的位置，便于根据各个像素点对应的位置对散射光能量能量的提取，进而快速绘制散射光能量分布图，加快计算所述待测样品的粒度分布的运算速度。本发明还提供了一种粒度分布测试方法，具有上述效果。 | ||
| 搜索关键词： | 散射光能量 待测样品 粒度分布 分布图 散射光 像素点 掩膜板 圆环 发射激光光束 粒度分布测试 分布图计算 光电探测器 激光粒度仪 表面设置 电荷耦合 激光光束 激光光源 计算器 样品池 盛放 运算 直观 穿过 绘制 转换 | ||
【主权项】：
1.一种激光粒度仪，其特征在于，包括：/n用于发射激光光束的激光光源；/n用于盛放待测样品的样品池；/n用于接收所述激光光束穿过所述待测样品后产生的散射光，并将其转换为散射光能量分布图，表面设置有圆环掩膜板的电荷耦合光电探测器；/n用于根据所述散射光能量分布图计算所述待测样品的粒度分布的计算器；/n所述圆环掩膜板包括多个同心圆环，最小半径圆环的中心与所述电荷耦合光电探测器的光学中心重合。/n
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