[发明专利]一种干涉仪装配质量检测系统有效

专利信息
申请号: 201611244555.6 申请日: 2016-12-29
公开(公告)号: CN106596075B 公开(公告)日: 2019-08-09
发明(设计)人: 杨建华;时东海;马瑞;黄磊;任娟;黄鑫岩;龙娅;陈欣 申请(专利权)人: 北京航天时代光电科技有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 马全亮
地址: 100094*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种干涉仪装配质量检测系统,由测试系统与被测干涉仪光路组成完整保偏光纤陀螺最小互易性结构,本发明可以通过探测器输出电压判断干涉仪光路装配损耗,提前发现干涉仪光路损耗问题,提高装配合格率,降低生产成本。
搜索关键词: 一种 干涉仪 装配 质量 检测 系统
【主权项】:
1.一种干涉仪装配质量检测系统,其特征在于包括:壳体(1)、风扇(2)、光路检测系统(3)、检测电路(4)、电信号探测器(5)、FC/APC接头(6);风扇(2)、光路检测系统(3)、检测电路(4)和电信号探测器(5)安装在壳体(1)内部,风扇(2)用于给壳体(1)内部降温,光路检测系统(3)通过安装在壳体(1)上的FC/APC接头(6)连接外部待检测的干涉仪,同时,光路检测系统(3)通过电信号探测器(5)与检测电路(4)连接成回路,用于检测外部待检测的干涉仪的光功率;所述光路检测系统(3)包括光源(7)、3×3耦合器(8)、2×2耦合器(9)、光路支撑壳体(10)和裸管探测器(11);光路支撑壳体(10)固定在壳体(1)的内部底板上,光源(7)、3×3耦合器(8)、2×2耦合器(9)和裸管探测器(11)均安装在光路支撑壳体(10)上;光源(7)提供光信号,与3×3耦合器(8)的输入端熔接在一起,通过3×3耦合器(8)分光为三路,一路与裸管探测器(11)连接,用于检测光功率并输出;另外两路均与2×2耦合器(9)的一个输入端连接,经过2×2耦合器(9)分光之后,其中一路连接到FC/APC接头(6);2×2耦合器(9)的另外一路输入端还连接到电信号探测器(5)。
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