[发明专利]一种修复硅片崩边的方法在审

专利信息
申请号: 201611245886.1 申请日: 2016-12-29
公开(公告)号: CN106584285A 公开(公告)日: 2017-04-26
发明(设计)人: 李飞龙;王珊珊;李巍;刑国强 申请(专利权)人: 苏州阿特斯阳光电力科技有限公司;阿特斯光伏电力(洛阳)有限公司
主分类号: B24C9/00 分类号: B24C9/00;B24C1/08
代理公司: 苏州翔远专利代理事务所(普通合伙)32251 代理人: 陆金星
地址: 215129 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种修复硅片崩边的方法,在待修复硅片的两侧设置假片,待修复硅片位于假片中间,假片与待修复硅片在待修复硅片的厚度方向上叠置,各待修复硅片的侧边与其相邻待修复硅片的侧边对齐;使用莫氏硬度大于7的颗粒对待修复硅片的崩边进行修复。金刚线切割产生的崩边缺陷片中60~80%的崩边缺陷片能够通过本发明进行修复,且修复率达到60~80%修复后的硅片在电池端各项指标与正常A级片无差异;本发明成本低,设备投入小。
搜索关键词: 一种 修复 硅片 方法
【主权项】:
一种修复硅片崩边的方法,其特征在于:在待修复硅片的两侧设置假片,待修复硅片位于假片中间,假片与待修复硅片在待修复硅片的厚度方向上叠置,各待修复硅片的侧边与其相邻待修复硅片的侧边对齐;使用莫氏硬度大于7的颗粒对待修复硅片的崩边进行修复。
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