[发明专利]ICP‑AES法测定钇镁合金中杂质元素的方法

摘要

本发明涉及一种用ICP‑AES同时测定钇镁合金中铝、铁和钙元素的方法，其特征在于，包括下列步骤a、样品处理，b、混合标准溶液的配制，c、标准系列溶液的配制，d、空白标准溶液的配制，e、分析谱线选择，f、仪器工作参数调整，g、对样品标准溶液和空白标准溶液进行ICP‑AES测试，h、绘制标准曲线，i、样品测试，j、计算样品中的铝、铁和钙含量。采用电感耦合等离子体光谱法(ICP‑AES)测定钇镁合金中的杂质元素铝、铁和钙的含量，该方法成本较低、对仪器损耗小、测试过程简单、准确度高。

主权项

一种用ICP‑AES同时测定钇镁合金中铝、铁和钙元素含量的方法，其特征在于包括下列步骤：a、样品处理：取试样，加入硝酸和蒸馏水，加热至完全溶解得到样品溶液；冷却后，用水稀释至目标体积量，混匀，得到样品稀释溶液；b、混合标准溶液的配制：分别移取铝标准贮存溶液、铁标准贮存溶液、钙标准贮存溶液于同一容器中，加入硝酸，以水稀释至目标体积量，混匀，得到混合标准溶液；c、标准系列溶液的配制：根据钇镁合金中钇和镁的量，配制标准系列溶液，分别移取体积不同的步骤b所述的混合标准溶液于各自独立的容器中，分别加入钇和镁含量已知的钇基体溶液和镁基体溶液，以水稀释至目标体积量，混匀，得到标准系列溶液；d、空白标准溶液的配制：移取钇基体和镁基体标准溶液于容器中，加入硝酸，以水稀释至目标体积量，混匀，得到空白标准溶液；e、分析谱线选择：从光谱仪谱线库中，选择若干条被测元素铝、铁和钙的谱线，用步骤c配制的标准系列溶液进行谱图扫描之后选择出铝的分析谱线394.4±5nm，铁的分析谱线为240.4±5nm、259.9±5nm，钙的分析谱线为317.9±5nm、393.3±5nm；f、仪器工作参数的调整：调整电感耦合等离子体发射光谱仪，其工作参数为：RF发生器功率1400±500W，冷却气流量为10±5L/min，辅助气流量1.0±0.5L/min，雾化气流量为1±0.5L/min，总时间30±10s，泵速50±20r/min；g、在步骤e和f所述的条件下，对步骤c所述的标准系列溶液和步骤d所述的空白标准溶液进行ICP‑AES测试；h、根据步骤g的测试结果，绘制标准曲线；i、在步骤e和f所述的条件下，对步骤a所述的样品稀释溶液进行ICP‑AES测试；j、结合步骤i得到的样品测试结果与步骤h得到的标准曲线，计算样品中的铝、铁和钙的含量。