[实用新型]半导体器件测试仪

摘要

本实用新型涉及一种测试仪，具体涉及一种可测试半导体器件在黑暗环境中的参数同时可保证测试参数准确性和测试稳定性的半导体器件测试仪，包括测试仪本体，所述测试仪本体上设有操作平台，所述操作平台凹陷于测试仪本体中，所述操作平台上还设有不透光的罩壳，所述罩壳与测试仪本体转动配合且所述罩壳可将操作平台保持密闭；通过电机控制罩壳在测试仪本体上进行转动，从而使得当整个罩壳将操作平台笼罩后，操作平台内再对半导体器件进行通断电和测试各项性能参数的操作，这样的设计不仅无需人工干预，可自动化进行，保证了半导体器件在测试时不会出现因为光照原因产生的误差，大大的提高了测试的稳定性。

主权项

一种半导体器件测试仪，包括测试仪本体(1)，所述测试仪本体(1)上设有操作平台(2)，所述操作平台(2)凹陷于测试仪本体(1)中，其特征在于：所述操作平台(2)上还设有不透光的罩壳(3)，所述罩壳(3)与测试仪本体(1)转动配合且所述罩壳(3)可将操作平台(2)保持密闭。