[实用新型]一种内存高温测试箱有效

专利信息
申请号: 201620058144.7 申请日: 2016-01-21
公开(公告)号: CN205301215U 公开(公告)日: 2016-06-08
发明(设计)人: 徐亮一;邵刚 申请(专利权)人: 浪潮电子信息产业股份有限公司
主分类号: G01N25/00 分类号: G01N25/00
代理公司: 济南信达专利事务所有限公司 37100 代理人: 国建全
地址: 250101 山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 实用新型提供一种内存高温测试箱,其结构包括测试箱体、具有测试主板的测试平台及连接测试平台和外部显示器的KVM切换器,测试主板具有电源电路和插入待测内存的插槽,插槽的电源引脚与电源电路连接。测试箱体被分割成至少两个测试空间,测试平台为抽屉式结构,测试平台配合插入或拔出测试箱体的测试空间,且在测试平台配合插入测试箱体的测试空间时,测试平台和测试空间围成密封的测试环境,当将内存插入测试主板的插槽且内存接收来自电源电路提供的电压时,内存升温;再通过KVM切换器连接测试平台和外部显示器,查看检测结果;整个检测过程能真实、快速的显示内存在温度升高过程中的参数变化,以避免内存实际使用中引发的故障,实用性强。
搜索关键词: 一种 内存 高温 测试
【主权项】:
一种内存高温测试箱,包括测试箱体、具有测试主板的测试平台、以及连接测试平台和外部显示器的KVM切换器,所述测试主板具有电源电路和插入待测内存的插槽,插槽的电源引脚与电源电路连接以从电源电路接收电压,其特征在于,所述测试箱体被分割成至少两个互不连通的测试空间,所述测试平台为抽屉式结构,抽屉式结构的测试平台配合插入或拔出测试箱体的测试空间,且在测试平台配合插入测试箱体的测试空间时,测试平台和测试空间围成密封的测试环境。
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