[实用新型]用于检测由于辐射暴露而引起的劣化的装置有效
| 申请号： | 201620831614.9 | 申请日： | 2016-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN206531924U | 公开（公告）日： | 2017-09-29 |
| 发明（设计）人： | A·J·威特科普 | 申请（专利权）人： | 费希尔控制产品国际有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/316;G01T1/02 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人： | 曹雯 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本实用新型描述了用于检测由于辐射暴露而引起的劣化的装置。用于检测由于辐射暴露而引起的电路故障的示例性装置包括信号监控器，其用于确定模拟电路中的半导体器件的电流；电流和辐射相关器，其用于基于该电流来确定该半导体器件已被暴露于辐射的辐射量；比较器，其用于将该辐射量与辐射剂量阈值相比较；以及报警管理器，其用于基于比较结果来指示该半导体器件的劣化。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 由于 辐射 暴露 引起 装置 | ||
【主权项】：
一种用于检测由于辐射暴露而引起的劣化的装置，其特征在于，包括：信号监控器，其用于确定模拟电路中的半导体器件的电流；电流和辐射相关器，其用于基于所述电流来确定所述半导体器件已被暴露于辐射的辐射量；比较器，其用于将所述辐射量与辐射剂量阈值相比较；以及报警管理器，其用于基于比较结果来指示所述半导体器件的劣化。
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