[实用新型]一种高兼容性的快充类产品老化测试系统有效
| 申请号： | 201621037939.6 | 申请日： | 2016-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN206147077U | 公开（公告）日： | 2017-05-03 |
| 发明（设计）人： | 邱水良;冉建强;赵朝映 | 申请（专利权）人： | 东莞市旺达富自动化设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/40 | 分类号： | G01R31/40 |
| 代理公司： | 东莞市华南专利商标事务所有限公司44215 | 代理人： | 肖冬 |
| 地址： | 523000 广东省东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及电源性能测试技术领域，具体地，涉及可兼容快充充电器、快充移动电源及通用移动电源综合老化测试系统，包括电网供电模块、上位机监控系统、主控单元MCU模块、充电控制模块、充电电压电流采集模块、快充控制模块、子控单元MCU模块、放电控制模块、放电电压电流采集模块，本实用新型提供一种高兼容性的快充类产品老化测试系统，具有智能化程度高，兼容性高，成本较低，效率高等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 兼容性 类产品 老化 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种高兼容性的快充类产品老化测试系统，其特征在于：包括电网供电模块、主控单元MCU模块、充电控制模块、充电电压电流采集模块、快充控制模块、子控单元MCU模块；主控单元MCU模块经过电源适配器与电网供电模块电性连接，充电控制模块、充电电压电流采集模块并联后与主控单元MCU模块电性串联连接，充电控制模块、充电电压电流采集模块通过设置的充电接口与被测产品电性连接；子控单元MCU模块经过电源适配器与电网供电模块电性连接，同时子控单元MCU模块通过光电隔离器与主控单元MCU模块建立串行通信连接，快充控制模块与子控单元MCU模块电性串联连接，快充控制模块通过快充接口与被测产品电性连接。
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