[实用新型]薄膜X射线衍射原位测试装置有效
| 申请号： | 201621060031.7 | 申请日： | 2016-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN206074486U | 公开（公告）日： | 2017-04-05 |
| 发明（设计）人： | 王瑞;刘春泽;朱大明;顾月良;阴广志;李晓龙 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海应用物理研究所 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20;G05D27/02 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司31002 | 代理人： | 邓琪 |
| 地址： | 201800 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型提供一种薄膜X射线衍射原位测试装置，包括一冷热台腔体和与其相连的一温度控制机构及一冷却机构，所述冷热台腔体包括可拆卸连接的一样品台底座和一压盖，所述压盖与所述样品台底座配合形成一内腔；还包括一湿度控制机构，所述湿度控制机构连接所述冷热台腔体。本实用新型的一种薄膜X射线衍射原位测试装置可对反应腔体进行高低温控制、湿度控制并可实现原位的电学测试功能，具有调节自由度大、调节精度高、操作便捷、安全度高和成本低的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 薄膜 射线 衍射 原位 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种薄膜X射线衍射原位测试装置，包括一冷热台腔体和与其相连的一温度控制机构及一冷却机构，所述冷热台腔体包括可拆卸连接的一样品台底座和一压盖，所述压盖与所述样品台底座配合形成一内腔；其特征在于，还包括：一湿度控制机构，所述湿度控制机构连接所述冷热台腔体。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海应用物理研究所，未经中国科学院上海应用物理研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201621060031.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于CT扫描的黄土干湿循环装置
- 下一篇：太阳能背板薄膜抗收缩性能检测装置
