[实用新型]一种ATE数字测试系统有效
| 申请号： | 201621095853.9 | 申请日： | 2016-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN206194378U | 公开（公告）日： | 2017-05-24 |
| 发明（设计）人： | 高爽;王浩 | 申请（专利权）人： | 江苏艾科半导体有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 南京申云知识产权代理事务所(普通合伙)32274 | 代理人： | 邱兴天 |
| 地址： | 212009 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种ATE数字测试系统，包括地址发生器、图形存储器、指令存储器、自检存储器以及驱动器，地址发生器与图形存储器、指令存储器和自检存储器均连接，自检存储器与总线相连，图形存储器与驱动器相连。本实用新型有效解决传统的自检方式没有验证到的部分，用于自检的图形包含除加一以外的循环、跳转、块循环等特殊指令，之后对此图形的运行轨迹进行监测，观察在高速运行下是否地址按照各个微指令进行相应的变化，由此验证系统的性能以及微指令部分的逻辑是否正常。可以更大程度上的体现诸多传统自检无法发现的潜在问题，使出厂的设备更稳定，故障率更小，在现场故障中更容易有针对性的排除干扰找到问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ate 数字 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种ATE数字测试系统，其特征在于，包括地址发生器、图形存储器、指令存储器、自检存储器以及驱动器，地址发生器与图形存储器、指令存储器和自检存储器均连接，自检存储器与总线相连，图形存储器与驱动器相连。
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