[实用新型]一种陶瓷样品的抛光及光泽度检测系统有效
| 申请号： | 201621172131.9 | 申请日： | 2016-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN206132612U | 公开（公告）日： | 2017-04-26 |
| 发明（设计）人： | 张引;孙计赞;刘胜;朱凌 | 申请（专利权）人： | 张引 |
| 主分类号： | G01N21/57 | 分类号： | G01N21/57;B24B29/02 |
| 代理公司： | 淄博佳和专利代理事务所37223 | 代理人： | 孙爱华 |
| 地址： | 255035 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 一种陶瓷样品的抛光及光泽度检测系统，属于陶瓷光泽度检测技术领域。其特征在于包括机架（6），在机架（6）表面铺设有用于放置和运送陶瓷样品的传送带（1），在机架（6）上还设置有对陶瓷样品进行抛光的抛光单元（3）以及对陶瓷样品进行光泽度测试的光泽度检测单元（5），传送带（1）依次连接抛光单元（3）以及光泽度检测单元（5），传送带（1）、抛光单元（3）以及光泽度检测单元（5）的工作状态由控制单元进行控制。通过本陶瓷样品的抛光及光泽度检测系统，通过传送带，将陶瓷样品依次送入抛光单元进行抛光以及光泽度检测单元进行光泽度的测试，大大提高了工作效率以及自动化程度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 陶瓷 样品 抛光 光泽 检测 系统 | ||
【主权项】：
一种陶瓷样品的抛光及光泽度检测系统，其特征在于：包括机架（6），在机架（6）表面铺设有用于放置和运送陶瓷样品的传送带（1），在机架（6）上还设置有对陶瓷样品进行抛光的抛光单元（3）以及对陶瓷样品进行光泽度测试的光泽度检测单元（5），传送带（1）依次连接抛光单元（3）以及光泽度检测单元（5），传送带（1）、抛光单元（3）以及光泽度检测单元（5）的工作状态由控制单元进行控制。
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