[实用新型]一种基于数字全息扫描的三维形貌测量装置有效
申请号: | 201621301243.X | 申请日: | 2016-11-30 |
公开(公告)号: | CN206347972U | 公开(公告)日: | 2017-07-21 |
发明(设计)人: | 姚震;吴易明;樊鹏格;朱帆;尹逊龙 | 申请(专利权)人: | 西安中科光电精密工程有限公司 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司61200 | 代理人: | 陆万寿 |
地址: | 710119 陕西省西安市高新*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型公开了一种基于数字全息扫描的三维形貌测量装置,包括一个移动测量装置和数字全息检测模块,所述数字全息检测模块装配在一个移动测量装置上,所述数字全息检测模块上设有测量待测工件平面到CCD/CMOS图像传感器窗口平面的距离的激光测距仪,通过激光测距仪的记录距离得到CCD/CMOS图像传感器上物光波和参考光波的干涉强度信息;实现数字全息检测模块在移动测量装置的带动下对大型待测工件表面区域进行测量。该装置通过对子测量区域三维模型进行激光测距和图像拼接,得到大型工件表面的三维形貌,降低了仪器对三轴龙门式位移平台或机械臂运动精度的要求。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 数字 全息 扫描 三维 形貌 测量 装置 | ||
【主权项】:
一种基于数字全息扫描的三维形貌测量装置,包括一个移动测量装置和数字全息检测模块,其特征在于,所述数字全息检测模块装配在一个移动测量装置上,所述数字全息检测模块上设有测量待测工件平面到CCD/CMOS图像传感器窗口平面的距离的激光测距仪,通过激光测距仪的记录距离得到CCD/CMOS图像传感器上物光波和参考光波的干涉强度信息;实现数字全息检测模块在移动测量装置的带动下对大型待测工件表面区域进行测量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安中科光电精密工程有限公司,未经西安中科光电精密工程有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201621301243.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种混凝土碳化深度测量装置
- 下一篇:一种精密减速机传动精度检测设备