[实用新型]用于SMD激光打标机的高精度检测设备有效

专利信息
申请号: 201621340874.2 申请日: 2016-12-08
公开(公告)号: CN206648605U 公开(公告)日: 2017-11-17
发明(设计)人: 成奎栋 申请(专利权)人: 伊欧激光科技(苏州)有限公司
主分类号: G01B11/14 分类号: G01B11/14
代理公司: 北京市科名专利代理事务所(特殊普通合伙)11468 代理人: 郭杨,周斌
地址: 215217 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种用于SMD激光打标机的高精度检测设备,包括有定位底座,定位底座上设置有定位衔接孔,定位底座上连接有延长支架,延长支架上安装有调节装置,调节组件上端设置主取景装置,调节组件下端设置有取景辅助装置,主取景装置上连接有图像传输装置。由此,可直接通过CCD组件取景,获取实时处理图像,判别打标是否处于最佳状态。拥有独立的取景辅助装置,可避免不必要的外部光线对取景造成影响。采用调节装置,可根据实际打标的SMD产品不同,进行间距调节,保证获取清晰的图像。整体构造简单,能加装到各类打标机上,易于实施。
搜索关键词: 用于 smd 激光 打标机 高精度 检测 设备
【主权项】:
一种用于SMD激光打标机的高精度检测设备,包括有定位底座,所述定位底座上设置有定位衔接孔,其特征在于:所述定位底座上连接有延长支架,所述延长支架上安装有调节装置,所述调节装置上端设置主取景装置,所述调节装置下端设置有取景辅助装置,所述主取景装置上连接有图像传输装置。
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