[实用新型]芯片多面包封保护结构有效
申请号: | 201621342233.0 | 申请日: | 2016-12-08 |
公开(公告)号: | CN206293426U | 公开(公告)日: | 2017-06-30 |
发明(设计)人: | 于大全;杨力 | 申请(专利权)人: | 华天科技(昆山)电子有限公司 |
主分类号: | H01L23/29 | 分类号: | H01L23/29;H01L23/31;H01L21/56 |
代理公司: | 昆山四方专利事务所32212 | 代理人: | 盛建德,段新颖 |
地址: | 215300 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种芯片多面包封保护结构,采用可光刻干膜对半导体芯片第一表面进行包封,并通过真空填膜的方式对半导体芯片侧面进行包封,实现了对芯片第一表面及侧面的保护,与环氧塑封料包封相比采用干膜的台阶覆盖性好,填充后几乎不产生气泡,无需进行多次填充工艺和抽真空工艺,因此,制程工艺简单,制程时间也相对缩短。采用干膜覆盖表面平整,仅需曝光、显影制程暴露出凸点,凸点高度的均一性好,同时避免了研磨工艺带来厂务废水特殊处理问题。采用干膜真空填膜的方式进行填充包封芯片侧面,填充料足,无分层、溢料、胶体翘曲等缺陷。 | ||
搜索关键词: | 芯片 多面 保护 结构 | ||
【主权项】:
一种芯片多面包封保护结构,其特征在于:包括一芯片,所述芯片包含第一表面、与其相对的第二表面,以及侧面;所述第一表面包含焊垫以及与其电连接的凸点,所述芯片的第一表面及侧面上包封有可光刻聚合物材料,所述第一表面上的可光刻聚合物材料暴露出所述凸点。
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