[实用新型]一种用于片式电子元器件测试的通用测试座

摘要

本实用新型公开了一种用于片式电子元器件测试的通用测试座，包括底座，底座为横板和竖板构成的L型结构；竖板上安装有两个左右对称且可上下滑动的测试块，每个测试块与产品的接触面为倾斜面，两个测试块的倾斜面相对设置形成容纳不同尺寸产品的三角形区域；横板上设有用于顶起测试块的弹簧。本实用新型的两个测试块的倾斜面形成三角形区域，产品在进行测试时其与倾斜面的接触方式为线接触，保护了产品外观，解决了探针对产品端头损伤的问题；同时，三角形区域可容纳不同尺寸的产品，增加了测试座的实用性。

主权项

一种用于片式电子元器件测试的通用测试座，其特征在于，包括：底座(1)，所述底座(1)为横板(1‑1)和竖板(1‑2)构成的L型结构；所述竖板(1‑2)上安装有两个左右对称且可上下滑动的测试块(2)，每个所述测试块(2)与产品的接触面为倾斜面(2‑1)，两个所述测试块的倾斜面(2‑1)相对设置形成容纳不同尺寸产品的三角形区域；所述横板(1‑1)上设有用于顶起所述测试块(2)的弹簧(3)。