[实用新型]一种集成电路直流测试探针基座有效
| 申请号： | 201621401921.X | 申请日： | 2016-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN206331003U | 公开（公告）日： | 2017-07-14 |
| 发明（设计）人： | 陈一峰 | 申请（专利权）人： | 成都海威华芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 成都华风专利事务所(普通合伙)51223 | 代理人： | 徐丰 |
| 地址： | 610029 四川省成都市*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种集成电路直流测试探针基座，其特征在于包括探针台，所述探针台上设置有紫外光灯丝、紫外灯开关、紫外线照射胶带和探针基座，所述探针基座上设置有探针和探针控制钮。通过上述方式，本实用新型实施例的集成电路直流测试探针基座不仅可以将探针基座固定在探针台上，防止测试过程中造成的探针移动，还可以通过UV照射，方便探针的移动，解决手动测试中时常出现测试探针易损坏的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 直流 测试 探针 基座 | ||
【主权项】：
一种集成电路直流测试探针基座，其特征在于：包括探针台，所述探针台上设置有紫外光灯丝、紫外灯开关、紫外线照射胶带和探针基座，所述探针基座上设置有探针和探针控制钮。
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