[实用新型]一种用于晶圆的测试系统有效
申请号: | 201621415299.8 | 申请日: | 2016-12-21 |
公开(公告)号: | CN206292349U | 公开(公告)日: | 2017-06-30 |
发明(设计)人: | 吴俊;袁志伟 | 申请(专利权)人: | 珠海市中芯集成电路有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 珠海智专专利商标代理有限公司44262 | 代理人: | 黄国豪 |
地址: | 519000 广东省珠海市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型提供一种用于晶圆的测试系统,包括测试仪、第一继电模块、单片机、第二继电模块和第三继电模块,测试仪用于对晶圆进行第一测试,第一继电模块用于连接在测试仪和晶圆之间,第一继电模块用于接收测试仪输出的第一通断信号,单片机接收测试仪的启动信号,单片机通过加密算法对晶圆进行第二测试,第二继电模块用于连接在单片机和晶圆之间,第二继电模块用于接收测试仪输出的第二通断信号,第三继电模块连接在测试仪和单片机之间,第三继电模块接收测试仪输出的第三通断信号。通过测试仪和单片机分别对芯片进行不同测试,并利用继电模块进行切换,其能够大大提升测试效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 测试 系统 | ||
【主权项】:
一种用于晶圆的测试系统,其特征在于,包括:测试仪,所述测试仪用于对所述晶圆进行第一测试;第一继电模块,所述第一继电模块用于连接在所述测试仪和所述晶圆之间,所述第一继电模块用于接收所述测试仪输出的第一通断信号;单片机,所述单片机接收所述测试仪的启动信号,所述单片机通过加密算法对所述晶圆进行第二测试;第二继电模块,所述第二继电模块用于连接在所述单片机和所述晶圆之间,所述第二继电模块用于接收所述测试仪输出的第二通断信号;第三继电模块,所述第三继电模块连接在所述测试仪和所述单片机之间,所述第三继电模块接收所述测试仪输出的第三通断信号。
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