[实用新型]整体式拨叉综合检具

摘要

本实用新型涉及一种综合检具，尤其涉及一种整体式拨叉综合检具。包括机架和拨叉，所述的拨叉的上部与机架通过上固定组件定位，所述的拨叉的底部与机架通过下固定组件定位，所述的拨叉的一叉脚通过侧固定组件定位，所述的机架中设有滑动轴，所述的滑动轴的上端与拨叉上端间、滑动轴的下端与拨叉的下端间分别通过测量组件基准定位，所述的拨叉的另一叉脚通过机架中的位置插销组件进行定位，所述的机架中设有基准组件。整体式拨叉综合检具结构简单，提高使用性能，提升操作效率。

主权项

一种整体式拨叉综合检具，其特征在于：包括机架(1)和拨叉(2)，所述的拨叉(2)的上部与机架(1)通过上固定组件定位，所述的拨叉(2)的底部与机架(1)通过下固定组件定位，所述的拨叉(2)的一叉脚通过侧固定组件定位，所述的机架(1)中设有滑动轴(3)，所述的滑动轴(3)的上端与拨叉(2)上端间、滑动轴(3)的下端与拨叉(2)的下端间分别通过测量组件基准定位，所述的拨叉(2)的另一叉脚通过机架(1)中的位置插销组件进行定位，所述的机架(1)中设有基准组件；所述的上固定组件包括设在机架(1)中的上固定座(4)，所述的上固定座(4)中设有滑动定位座(5)，所述的滑动定位座(5)与上固定座(4)间设有定位导套(6)，所述的滑动定位座(5)的上部套有连接套(7)，所述的滑动定位座(5)的底部设有与拨叉(2)上端相活动定位的A基准定位套(8)；所述的下固定组件包括与机架(1)相固定的下固定座(9)，所述的下固定座(9)的上部设有与拨叉(2)底端相活动定位的B基准定位套(10)；所述的侧固定组件包括与机架(1)相固定的C基准支座(11)，所述的C基准支座(11)的上部设有与拨叉(2)相活动定位的C基准定位销(12)，所述的C基准支座(11)上端的外壁设有支撑座(13)，所述的支撑座(13)中设有推紧活块(14)，所述的推紧活块(14)的内端面设有与拨叉(2)相活动贴合的C基准(15)，所述的推紧活块(14)外套有与支撑座(13)相弹性连接的复位弹簧(16)，所述的推紧活块(14)的外端设有手柄(17)；所述的测量组件包括与滑动轴(3)相套接的滑套(18)，所述的滑套(18)外设有V槽测量杆(19)，所述的V槽测量杆(19)中设有测量轴(20)，所述的测量轴(20)的外端与V槽测量杆(19)间设有测量弹簧(21)，所述的测量轴(20)外端的 底部设有与拨叉(2)相活动定位的测量定位杆(22)；所述的位置插销组件包括位置度插销(23)，所述的位置度插销(23)与机架(1)间设有插销定位导套(24)，所述的位置度插销(23)的外端设有插销手柄(25)，所述的位置度插销(23)的内端与拨叉(2)相活动定位；所述的基准组件包括上端面校零基准(26)、上V槽校零基准(27)、下端面校零基准(28)、下V槽校零基准(29)和叉脚校零基准(30)，所述的上端面校零基准(26)、上V槽校零基准(27)、下端面校零基准(28)、下V槽校零基准(29)和叉脚校零基准(30)分别与拨叉(2)相匹配分布，所述的上端面校零基准(26)的上部设有上端面对零点(31)，所述的上V槽校零基准(27)的上部设有上V槽对零点(32)，所述的下端面校零基准(28)的上部设有下端面对零点(33)，所述的下V槽校零基准(29)的上部设有下V槽对零点(34)，所述的叉脚校零基准(30)的上部设有叉脚对零点(35)。