[实用新型]基于QVCM电路的电容测试芯片有效

专利信息
申请号: 201621439193.1 申请日: 2016-12-26
公开(公告)号: CN206369766U 公开(公告)日: 2017-08-01
发明(设计)人: 杨璐丹;窦晓昕;潘伟伟 申请(专利权)人: 杭州广立微电子有限公司
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26;G01R31/27;G01R31/28
代理公司: 杭州杭诚专利事务所有限公司33109 代理人: 王江成,卢金元
地址: 310012 浙江省杭州市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型公开了一种基于QVCM电路的电容测试芯片,其包括片上时钟发生器电路、寻址电路、QVCM电路单元以及若干连接到各电路的焊盘;所述片上时钟发生器电路连接寻址电路和QVCM电路单元,QVCM电路单元连接寻址电路,QVCM电路单元和寻址电路都连接到待测器件。片上时钟发生器电路的输出端产生三个时钟信号并输入到QVCM电路单元中,通过寻址电路选择待测器件进行检测。由于采用了寻址电路,本方案可以用较少的焊盘实现对多目标的选择,减小面积。并且由于时钟源为同一个,可以精确控制各时钟端的相位,从而提高检测精度。本方案适用于集成电路制造过程中的电容测量。
搜索关键词: 基于 qvcm 电路 电容 测试 芯片
【主权项】:
一种基于QVCM电路的电容测试芯片,其特征在于,包括片上时钟发生器电路、寻址电路、QVCM电路单元以及若干连接到各电路的焊盘;所述片上时钟发生器电路连接寻址电路和QVCM电路单元,QVCM电路单元连接寻址电路,QVCM电路单元和寻址电路都连接到待测器件。
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