[实用新型]用于快中子成像的探测系统有效
| 申请号： | 201621454180.1 | 申请日： | 2016-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN206362944U | 公开（公告）日： | 2017-07-28 |
| 发明（设计）人： | 李玉兰;付逸冬;李元景;于海军;常建平 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01V5/00 | 分类号： | G01V5/00 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司11438 | 代理人： | 姜怡,袁礼君 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开一种用于快中子成像的探测系统。该系统包括探测器，用于使快中子入射到探测器中，从而所述快中子与所述探测器中1H原子核发生一次弹性散射，其中所述一次弹性散射产生散射中子和反冲质子，所述散射中子在探测器中发生二次作用，所述反冲质子在所述探测器灵敏介质中产生电子和阳离子，所述探测器包括时间投影室；信号响应模块；信号获取模块；中子模块；以及成像模块。本申请公开的用于快中子成像的探测系统，能够提高特殊核材料监测中对快中子监测的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 快中子 成像 探测 系统 | ||
【主权项】：
一种用于快中子成像的探测系统，其特征在于，包括：探测器，用于使快中子入射到探测器中，从而所述快中子与所述探测器中1H原子核发生一次弹性散射，其中所述一次弹性散射产生散射中子和反冲质子，所述散射中子在探测器中发生二次作用，所述反冲质子在所述探测器灵敏介质中产生电子和阳离子，所述探测器包括时间投影室；信号响应模块，用于获取所述电子在电场作用下到达预定位置的响应信号；信号获取模块，用于通过所述响应信号，获取所述电子的漂移时间、坐标以及数量；中子模块，用于获取所述散射中子的信息；以及成像模块，用于通过所述散射中子的信息、所述电子的所述漂移时间、所述坐标以及所述数量，进行所述快中子的成像。
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