[发明专利]抛光研磨处理中研磨量的模拟方法、抛光研磨装置及研磨量的模拟用存储介质有效

专利信息
申请号: 201680003000.4 申请日: 2016-01-18
公开(公告)号: CN107107309B 公开(公告)日: 2020-09-18
发明(设计)人: 山口都章;小畠严贵;水野稔夫 申请(专利权)人: 株式会社荏原制作所
主分类号: B24B37/34 分类号: B24B37/34;B24B37/10;H01L21/304
代理公司: 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 代理人: 肖华
地址: 日本国东京都*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明以如下为一个课题:考虑小径的抛光垫从被研磨基板突出时在基板的边缘附近产生的压力集中,来进行抛光研磨量的模拟。根据本发明的一实施方式,提供一种研磨量的模拟方法,对使用尺寸比研磨对象物小的研磨垫来对研磨对象物进行抛光研磨时的研磨量进行模拟,该研磨量的模拟方法具有以下步骤:依研磨垫相对于研磨对象物的突出量,使用压力传感器测定从所述研磨垫施加给研磨对象物的压力分布;及根据突出量及测定出的压力分布,修正用于研磨量的模拟的压力。
搜索关键词: 抛光 研磨 处理 模拟 方法 装置 存储 介质
【主权项】:
一种模拟方法,对使用尺寸比研磨对象物小的研磨垫来对研磨对象物进行抛光研磨时的研磨量进行模拟,所述模拟方法的特征在于,具有以下步骤:根据研磨垫相对于研磨对象物的突出量,使用压力传感器测定从所述研磨垫施加给研磨对象物的压力分布;以及根据突出量及测定出的压力分布,修正用于研磨量的模拟的压力。
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