[发明专利]扫描探针显微镜以及用于测量局部电势场的方法有效
| 申请号： | 201680010169.2 | 申请日： | 2016-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN107438769B | 公开（公告）日： | 2020-08-18 |
| 发明（设计）人： | F.S.陶茨;R.特米罗夫;C.瓦格纳;M.F.B.格林 | 申请（专利权）人： | 于利奇研究中心有限公司 |
| 主分类号： | G01Q60/30 | 分类号： | G01Q60/30;G01Q60/42 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 臧永杰;张涛 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及扫描探针显微镜以及用于测量局部电势场的方法。按照本发明提供扫描探针显微镜，量子点被安置在所述扫描探针显微镜的尖端处。这使得能够提高在测量电势场时的分辨率和灵敏度。在按照本发明的方法中确定所施加的电压，在所述电压的情况下发生量子点的电荷变化。按照本发明，分辨率不再与尖端距要研究的试样的间隔以及尖端的半径有关。 | ||
| 搜索关键词： | 扫描 探针 显微镜 以及 用于 测量 局部 电势 方法 | ||
【主权项】：
具有尖端的扫描探针显微镜，其特征在于，量子点（2）被安置在所述尖端（1）处。
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