[发明专利]沸石膜结构体及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201680011593.9 申请日: 2016-03-22
公开(公告)号: CN107427782B 公开(公告)日: 2020-06-23
发明(设计)人: 长坂龙二郎;铃木秀之;市川明昌;中村真二 申请(专利权)人: 日本碍子株式会社
主分类号: B01D71/02 分类号: B01D71/02;B01D69/00;B01D69/10;B01D69/12;C01B39/48;C04B41/85
代理公司: 北京旭知行专利代理事务所(普通合伙) 11432 代理人: 王轶;郑雪娜
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 沸石膜结构体(10)包括多孔质支撑体(20)和沸石膜(30)。沸石膜(30)具有:第一沸石层(31),该第一沸石层(31)配置于多孔质支撑体(20)的表面(23S)的内侧;和第二沸石层(32),该第二沸石层(32)配置于多孔质支撑体(20)的表面(23S)的外侧,且与第一沸石层(31)一体形成。多孔质支撑体(20)具有配置第一沸石层(31)的最表层(23a)。第一沸石层(31)的平均厚度为5.4μm以下。最表层(23a)的平均细孔径为0.050μm~0.150μm。
搜索关键词: 膜结构 及其 制造 方法
【主权项】:
一种沸石膜结构体,其包括:多孔质支撑体和沸石膜,所述沸石膜具有:第一沸石层,该第一沸石层配置于所述多孔质支撑体的表面的内侧,和第二沸石层,该第二沸石层配置于所述多孔质支撑体的所述表面的外侧,且与所述第一沸石层一体形成,所述多孔质支撑体具有配置所述第一沸石层的最表层,所述第一沸石层的平均厚度为5.4μm以下,利用细孔径分布测定装置测定的所述最表层的体积累积细孔径分布中的50%直径为0.050μm~0.150μm。
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