[发明专利]整合的混合NEMS质谱测定法在审
| 申请号： | 201680016374.X | 申请日： | 2016-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN107408489A | 公开（公告）日： | 2017-11-28 |
| 发明（设计）人： | 迈克尔·L·洛克斯;A·A·马卡罗夫 | 申请（专利权）人： | 加州理工学院;赛默飞世尔科技（布莱梅）有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/06 | 分类号： | H01J49/06;H01J49/26 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司11262 | 代理人： | 杨明钊,胡秋玲 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 混合质谱仪包括用于从样本产生离子的离子源；包括纳机电质谱(NEMS‑MS)系统的第一质谱系统；第二质谱系统，其包括适于根据带电粒子的质荷比来分离带电粒子的至少一个质量分析器；以及使第一质谱系统和第二质谱系统耦合的整合区，该整合区包括用于可控地将离子按规定路线发送到第一质谱系统和第二质谱系统中的选定的一个或两个以由此进行分析的至少一个定向设备。第二系统可以是轨道静电阱系统。离子束可以由离子光学器件电气地引导到一个或另一个系统。具有谐振器的芯片可以通过冷却使用。用途包括对在生物系统中发现的大质量复合物的分析、天然单分子分析以及大小和形状分析。 | ||
| 搜索关键词： | 整合 混合 nems 测定法 | ||
【主权项】：
一种质谱仪装置，包括：至少一个混合质谱仪，所述至少一个混合质谱仪包括：离子源，所述离子源用于从样本产生离子，第一质谱系统，所述第一质谱系统包括纳机电质谱(NEMS‑MS)系统，第二质谱系统，所述第二质谱系统包括适于根据带电粒子的质荷比来分离所述带电粒子的至少一个质量分析器，整合区，所述整合区将所述第一质谱系统和所述第二质谱系统耦合，所述整合区包括至少一个定向设备，所述至少一个定向设备用于可控地将所述离子按规定路线发送到所述第一质谱系统和所述第二质谱系统中的选定的一个或两个以由其进行分析。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于加州理工学院;赛默飞世尔科技（布莱梅）有限公司，未经加州理工学院;赛默飞世尔科技（布莱梅）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201680016374.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用以增强质谱仪稳健性的RF/DC滤波器
- 下一篇：氮化铝阻挡层
