[发明专利]用于光检测与测距光学对准的方法与系统有效
| 申请号： | 201680018437.5 | 申请日： | 2016-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN107407727B | 公开（公告）日： | 2019-05-10 |
| 发明（设计）人： | G.彭内科特;P-Y.德罗兹 | 申请（专利权）人： | 伟摩有限责任公司 |
| 主分类号： | G01S17/42 | 分类号： | G01S17/42;G01S7/481;G01S7/497 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 王冉 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供了一种方法，其涉及将发射块和接收块安装在LIDAR装置中，以提供发射块和接收块之间的相对位置。该方法还涉及将相机定位在给定位置处，在该给定位置处，相机可以对由发射块发射的光束成像，并且可以对接收块成像。该方法还涉及使用相机获得指示发射块中的一个或多个光源的光源位置的第一图像和指示接收块中的一个或多个检测器的检测器位置的第二图像。该方法还涉及基于第一图像和第二图像来确定至少一个偏移。该方法还涉及至少部分地基于所述至少一个偏移来调节发射块和接收块之间的相对位置。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 测距 光学 对准 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于光检测和测距装置对准的方法，包括：使用位于光检测和测距装置的外部的给定位置处的相机获得第一图像，其中，所述光检测和测距装置包括发射块和接收块，其中，所述发射块包括一个或多个光源，其中，所述接收块包括一个或多个光检测器，并且其中，所述第一图像指示所述一个或多个光源的光源位置；使用位于所述光检测和测距装置的外部的所述给定位置处的所述相机获得第二图像，其中，所述第二图像指示所述一个或多个光检测器的检测器位置；将所述第一图像与所述第二图像比较以确定与光源相关联的一个或多个像素和与对应的光检测器相关联的一个或多个像素之间的分离；以及至少基于所述比较，调整在所述光检测和测距装置中所述接收块的安装位置。
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