[发明专利]成像装置及相应的成像方法有效
申请号: | 201680018475.0 | 申请日: | 2016-03-25 |
公开(公告)号: | CN107407721B | 公开(公告)日: | 2020-10-09 |
发明(设计)人: | 弗洛朗·克莱蒙斯;尼古拉斯·图弗南;马蒂厄·韦尔坎;西尔万·乔尼奥;尼古拉斯·韦尔斯 | 申请(专利权)人: | 微波特性中心 |
主分类号: | G01S7/03 | 分类号: | G01S7/03;G01S7/40;G01S13/42;G01S13/88;G01S13/89 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 聂慧荃;闫华 |
地址: | 法国桑甘*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种成像装置(1),其包括:‑第一微波频率传感器或第一组微波传感器(2),优选地为辐射传感器,每个微波频率传感器(2)被构造成感测由位于所述微波频率传感器(2)的检测区域中的身体或物体发射或反射的电磁辐射;以及‑反射器装置(6),被构造成反射可由第一微波频率传感器或该组微波频率传感器(2)感测的电磁辐射。特别地,反射器装置(6)被安装成可在每个微波频率传感器(2)的检测区域中移动,以便通过使反射器装置(6)位移来移动所述检测区域。本发明还涉及一种微波频率成像的相应方法。 | ||
搜索关键词: | 成像 装置 相应 方法 | ||
【主权项】:
一种成像装置(1),其特征在于,其包括:第一微波传感器或第一组微波传感器(2),优选地为辐射传感器,每个微波传感器(2)被构造成拾取由位于所述微波传感器(2)的检测区域(8)中的身体或物体发射或反射的电磁辐射;以及反射器装置(6),被构造成反射所述第一微波传感器或该组微波传感器(2)所能够拾取的电磁辐射;一个或多个参考发射器装置(22、24),优选地为两个参考发射器装置,其中,所述反射器装置(6)被安装成能够在每个微波传感器(2)的检测区域(8)中移动,以通过所述反射器装置(6)的移动来移动所述检测区域(8),且其中,所述反射器装置(6)还被构造成使每个微波传感器(2)的检测区域(8)在每个所述参考发射器装置(22、24)上移动。
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