[发明专利]用于至少一个对象的光学检测的检测器有效

专利信息
申请号: 201680019688.5 申请日: 2016-01-28
公开(公告)号: CN107438775B 公开(公告)日: 2022-01-21
发明(设计)人: S·瓦鲁施;I·布鲁德;R·森德;C·朗根施密德;W·赫尔梅斯;E·蒂尔;S·伊尔勒 申请(专利权)人: 特里纳米克斯股份有限公司
主分类号: G01S7/481 分类号: G01S7/481;H01L27/146;H01L27/30
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 姜利芳;杨晓光
地址: 德国路*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提出了一种用于至少一个对象(112)的光学检测的检测器(110)。该检测器(110)包括:‑至少一个纵向光学传感器(114),其中纵向光学传感器(114)具有至少一个传感器区域(130),其中纵向光学传感器(114)被设计成以取决于由光束(132)对传感器区域(130)的照射的方式生成至少一个纵向传感器信号,其中给定照射的相同总功率,纵向传感器信号取决于传感器区域(130)中光束(132)的束横截面(174),其中传感器区域(130)包括至少一种光导材料(134),其中给定照射的相同总功率,光导材料(134)的电导率取决于传感器区域(130)中光束(132)的束横截面(174),其中纵向传感器信号取决于电导率;以及‑至少一个评估装置(140),其中评估装置(140)被设计成通过评估纵向光学传感器(114)的纵向传感器信号来生成关于对象(112)的纵向位置的至少一个信息项。由此,提供了用于准确地确定空间中的至少一个对象(112)的位置的简单且仍然有效的检测器(110)。
搜索关键词: 用于 至少 一个 对象 光学 检测 检测器
【主权项】:
一种用于至少一个对象(112)的光学检测的检测器(110),包括:‑至少一个纵向光学传感器(114),其中所述纵向光学传感器(114)具有至少一个传感器区域(130),其中所述纵向光学传感器(114)被设计成以取决于由光束(132)对所述传感器区域(130)的照射的方式生成至少一个纵向传感器信号,其中给定所述照射的相同总功率,所述纵向传感器信号取决于所述传感器区域(130)中所述光束(132)的束横截面(174),其中所述传感器区域(130)包括至少一种光导材料(134),其中给定所述照射的相同总功率,所述光导材料(134)的电导率取决于所述传感器区域(130)中所述光束(132)的所述束横截面(174),其中所述纵向传感器信号取决于所述电导率;以及‑至少一个评估装置(140),其中所述评估装置(140)被设计成通过评估所述纵向光学传感器(114)的所述纵向传感器信号来生成关于所述对象(112)的纵向位置的至少一个信息项。
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