[发明专利]用于对多晶硅颗粒进行分级和除尘的设备和方法有效
申请号: | 201680021785.8 | 申请日: | 2016-04-01 |
公开(公告)号: | CN107530737B | 公开(公告)日: | 2020-10-13 |
发明(设计)人: | 米夏埃尔·弗里克;马丁·布里克赛尔;罗伯特·恩格鲁贝尔;赖纳·豪斯维特 | 申请(专利权)人: | 瓦克化学股份公司 |
主分类号: | B07B4/08 | 分类号: | B07B4/08;C01B33/037 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 张英;沈敬亭 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及用于对多晶硅颗粒进行分级和除尘的方法,其中将多晶硅颗粒送入筛分装置(1)中,利用一个或多个筛面(5)将其划分成两个或更多个粒级,其中在筛分装置(1)中通过多晶硅颗粒的抛掷运动由多晶硅颗粒分离出粘附的粉尘微粒,其中利用送入筛分装置(1)中的气流将分离出的粉尘微粒由该筛分装置(1)排出,其中该筛分装置是气密性的,送入(6)和导出(7)气流使得筛分装置(1)相对于环境处于正压,以及适合于实施该方法的设备。 | ||
搜索关键词: | 用于 多晶 颗粒 进行 分级 除尘 设备 方法 | ||
【主权项】:
用于对多晶硅颗粒进行分级和除尘的方法,其中将所述多晶硅颗粒送入筛分装置中,利用一个或多个筛面将所述多晶硅颗粒划分成两个或更多个粒级,其中在该筛分装置中通过所述多晶硅颗粒的抛掷运动由所述多晶硅颗粒分离出粘附的粉尘微粒,其中利用送入该筛分装置中的气流将分离出的粉尘微粒由该筛分装置排出,其中该筛分装置具有气密性设计,送入和导出气流使得该筛分装置相对于环境处于正压。
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