[发明专利]光学颗粒传感器和感测方法有效
| 申请号： | 201680034065.5 | 申请日： | 2016-06-06 |
| 公开（公告）号： | CN107735667B | 公开（公告）日： | 2021-06-15 |
| 发明（设计）人： | M·J·琼格瑞斯;G·库伊杰曼;K·卡拉卡亚;O·奥宇维尔特杰斯 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N15/06;G01N15/14 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 郑立柱;李春辉 |
| 地址： | 荷兰艾恩*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 光学颗粒传感器至少具有施加于光学传感器(16)或传感器信号的第一和第二阈限设置，以获得第一和第二光学传感器读数。对它们进行处理(24)以确定取决于污染事件类型的参数。该参数用于根据第一和第二光学传感器读数中的至少一个来确定低于第一颗粒尺寸的所有颗粒的质量。以这种方式，即使光学传感器不可以响应最小的颗粒，也可以评估低于期望尺寸的所有颗粒的质量。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 颗粒 传感器 方法 | ||
【主权项】：
一种光学颗粒传感器，包括：光学传感器(16)，所述光学传感器(16)生成传感器信号，其中所述传感器信号或所述传感器信号的分析能通过施加阈限设置来控制，其中所述阈限设置决定由所述传感器信号捕获的颗粒尺寸检测范围；以及控制器(24)，适于：至少施加不同的第一阈限设置和第二阈限设置，并且接收对应的第一光学传感器读数和第二光学传感器读数；处理所述第一光学传感器读数和所述第二光学传感器读数，以据此确定取决于污染事件类型的参数；以及使用所述参数以根据所述第一光学传感器读数和所述第二光学传感器读数中的至少一个，来确定低于第一颗粒尺寸的所有颗粒的质量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于皇家飞利浦有限公司，未经皇家飞利浦有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201680034065.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
