[发明专利]超声波探头以及超声波检查装置有效

专利信息
申请号: 201680037346.6 申请日: 2016-06-21
公开(公告)号: CN107710786B 公开(公告)日: 2020-03-27
发明(设计)人: 大野茂;住川健太;高桥卓也;柳谷隆彦 申请(专利权)人: 株式会社日立电力解决方案
主分类号: H04R17/00 分类号: H04R17/00;G01N29/24;G01N29/265
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 金鲜英;陈彦
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的目的是使得能够发送200MHz以上频率的超声波的超声波探头以及超声波检查装置容易地形成。为此,构成超声波探头4的层叠压电元件40具备在下部电极42与上部电极49之间设置层叠压电体膜48而成的层叠压电元件40。层叠压电体膜48在具有相对于膜面实质上垂直方向的自发极化的ZnO膜43上直接形成有与ZnO不同且具有与ZnO相反方向的自发极化的ScAlN膜44。
搜索关键词: 超声波 探头 以及 检查 装置
【主权项】:
一种超声波探头,其特征在于,具备在下部电极与上部电极之间设置层叠压电体膜而成的压电元件,所述层叠压电体膜中,在第1压电体层上直接形成有第2压电体层,所述第1压电体层由具有相对于膜面实质上垂直的自发极化的第1压电材料形成,所述第2压电体层由与所述第1压电材料不同且具有与所述第1压电材料相反方向的自发极化的第2压电材料构成。
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