[发明专利]层析分析装置及层析分析方法有效
| 申请号： | 201680038667.8 | 申请日： | 2016-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN107709994B | 公开（公告）日： | 2020-06-30 |
| 发明（设计）人： | 铃木启太;岩本久彦 | 申请（专利权）人： | 田中贵金属工业株式会社 |
| 主分类号： | G01N33/543 | 分类号： | G01N33/543 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 张苏娜;常海涛 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种能够在抑制非特异性反应的同时提高被检测物质的检测灵敏度的层析分析装置。本发明涉及一种层析分析装置，其至少包括担载有检测检体中所含的被检测物质的检测部(4)的层析介质部(3)，层析介质部(3)具有在支持体上设置膜而成的结构，所述膜的平均膜厚为110μm至130μm，并且所述膜的展开流速为30至45秒/40mm。 | ||
| 搜索关键词： | 层析 分析 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种层析分析装置，其至少包括层析介质部，该层析介质部担载有检测检体中所含的被检测物质的检测部，所述层析介质部具有在支持体上设置膜而成的结构，所述膜的平均膜厚为110μm至130μm，并且所述膜的展开流速为30至45秒/40mm。
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