[发明专利]辐射检测器制造有效

专利信息
申请号: 201680044181.5 申请日: 2016-07-26
公开(公告)号: CN107924926B 公开(公告)日: 2022-05-10
发明(设计)人: J.刘 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;G01T1/24;G01T1/29
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 郑浩;张金金
地址: 美国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明方法涉及辐射检测器的制造。在某些实施例中,采用诸如3D金属印刷技术等增材制造技术来制造检测器的一个或多个部分。在一个所述印刷实施例的一个示例中,可以首先将非晶硅设置在衬底上,并且可以使用激光来熔化所述非晶硅的一部分或全部,以形成光成像仪面板的晶体硅电路。也可以采用所述印刷技术来制造辐射检测器的其他方面,例如闪烁体层。
搜索关键词: 辐射 检测器 制造
【主权项】:
一种用于制造辐射检测器的光成像仪面板的方法,所述方法包括:将非晶硅(a‑Si)设置在衬底上;使所述a‑Si熔化;以及随后使所述a‑Si固化以在所述衬底上形成晶体硅(c‑Si)电路,其中所述c‑Si电路包括至少多个检测器像素,每个检测器像素包括至少场效应晶体管、光电二极管和电荷放大器。
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