[发明专利]诊断方法和器件有效
| 申请号： | 201680057029.0 | 申请日： | 2016-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN108779489B | 公开（公告）日： | 2023-04-28 |
| 发明（设计）人： | C·H·劳里;L·巴萨贝-德斯蒙特斯;T·谢菲尔;L·M·莉兹马桑;W·J·帕拉克 | 申请（专利权）人： | 巴斯克自治区总局;巴斯克国家大学;巴斯克地区高分子设计与工程中心 |
| 主分类号： | C12Q1/6823 | 分类号： | C12Q1/6823;C12Q1/6827;G01N33/542;G01N33/543;B01L3/00 |
| 代理公司： | 北京市铸成律师事务所 11313 | 代理人： | 王建秀;郗名悦 |
| 地址： | 西班牙*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于检测测试样品中标靶分析物的存在或不存在的方法，其包括以下步骤：i)提供多个检测器纳米粒子，其包含用对标靶分析物的第一区具特异性的第一探针官能化的第一检测器纳米粒子和用对所述标靶分析物的第二区具特异性的第二探针官能化的第二检测器纳米粒子；和ii)使所述检测器纳米粒子与测试样品在适于所述特异性探针结合于所述标靶分析物的条件下接触，其中标靶分析物诱导的所述检测器纳米粒子的凝聚允许从信号贮器释放可检测信号手段。还提供用于执行本发明方法的相关器件和系统。 | ||
| 搜索关键词： | 诊断 方法 器件 | ||
【主权项】：
1.一种用于检测测试样品中标靶分析物的存在或不存在的方法，其包括以下步骤：i)提供多个检测器纳米粒子，其包含用对标靶分析物的第一区具特异性的第一探针官能化的第一检测器纳米粒子和用对所述标靶分析物的第二区具特异性的第二探针官能化的第二检测器纳米粒子；和ii)使所述检测器纳米粒子与测试样品在适于所述特异性探针结合于所述标靶分析物的条件下接触，其中标靶分析物诱导的所述检测器纳米粒子的凝聚允许从信号贮器释放可检测信号手段。
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