[发明专利]用于确定空间依赖的X射线通量退化和光子谱改变的设备有效

专利信息
申请号: 201680058088.X 申请日: 2016-10-04
公开(公告)号: CN108135562B 公开(公告)日: 2022-08-16
发明(设计)人: L·D·米勒;C·里宾;D·范德芬 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03;A61B6/00;H05G1/54
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 王英;刘炳胜
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种用于确定空间依赖的X射线通量退化和光子谱变化的设备(10),一种用于确定针对X射线管(20)的空间依赖的X射线通量退化和光子谱变化的系统(1),一种用于针对X射线管(20)的空间依赖的X射线通量退化和光子谱变化的方法,一种用于控制这种用于执行这样的方法的设备(10)或系统(1)的计算机程序单元以及存储有这样的计算机程序单元的计算机可读介质。用于确定空间依赖的X射线通量退化和光子谱变化的设备(10)包括采集单元(11),处理单元(12),计算单元(13)和组合单元(14)。所述采集单元(11)被配置为采集针对X射线管(20)的X射线通量退化数据。所述处理单元(12)被配置为将X射线通量退化数据处理为空间依赖的通量退化数据。所述计算单元(13)被配置为至少计算X射线管(20)的光子谱变化并且将所述光子谱变化转换成空间依赖的谱。所述组合单元(14)被配置为对所述空间依赖的通量退化数据和所述空间依赖的谱进行组合。
搜索关键词: 用于 确定 空间 依赖 射线 通量 退化 光子 改变 设备
【主权项】:
一种用于确定针对X射线管(20)的空间依赖的X射线通量退化和光子谱变化的设备(10),包括:‑采集单元(11),‑处理单元(12),‑计算单元(13),以及‑组合单元(14);其中,所述采集单元(11)被配置为采集针对所述X射线管(20)的X射线通量退化数据;其中,所述处理单元(12)被配置为将所述X射线通量退化数据处理成空间依赖的通量退化数据;其中,所述计算单元(13)被配置为至少计算所述X射线管(20)的光子谱变化,并且将所述光子谱变化转换成空间依赖的谱;并且其中,所述组合单元(14)被配置为将所述空间依赖的通量退化数据与所述空间依赖的谱进行组合。
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