[发明专利]用于直接转换x射线检测器的极化校正有效
| 申请号： | 201680061282.3 | 申请日： | 2016-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN108139494B | 公开（公告）日： | 2022-07-26 |
| 发明（设计）人： | R·斯特德曼布克;E·罗塞尔;H·德尔 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/24 | 分类号： | G01T1/24 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 郑立柱 |
| 地址： | 荷兰艾恩*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 光子计数x射线检测器(3)遭受归因于极化的性能退化。为了校正极化对所生成的x射线图像的影响，本发明提出(i)将辐射检测器(3)暴露于由另一辐射源(11)发射的第一辐射脉冲，并且获得辐射检测器(3)响应于第一辐射脉冲而生成的第一电脉冲信号(3)，(ii)随后在采集图像期间将辐射检测器(3)暴露于由另一辐射源(11)发射的第二辐射脉冲，并且获得辐射检测器(3)响应于第二辐射脉冲而生成的第二电脉冲信号，以及(iii)比较第一电脉冲信号和第二电脉冲信号的幅度，并且基于该比较的结果生成x射线图像。本发明提供了一种对应的x射线设备和一种对应的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 直接 转换 射线 检测器 极化 校正 | ||
【主权项】：
一种用于生成对象的x射线图像的x射线设备(1)，包括光子计数辐射检测器(3)和x射线辐射源(2)，所述辐射检测器(3)被配置为将由所述x射线辐射源(2)发射并且已经横贯所述对象的x射线光子转换成与在所述图像的采集期间的x射线光子事件对应的电脉冲信号，所述设备还包括：另一辐射源(11)，所述另一辐射源(11)被配置为将所述辐射检测器暴露于第一辐射脉冲，并且在所述x射线图像的所述采集期间，所述另一辐射源(11)被配置为将所述辐射检测器暴露于第二辐射脉冲，所述第一辐射脉冲和所述第二辐射脉冲根据所述另一辐射源(11)的相同配置被发射，检测电路(210)，被配置为检测所述辐射检测器(3)由于所述辐射检测器(3)暴露于所述第一辐射脉冲而生成的第一电脉冲信号，并且被配置为检测所述辐射检测器(3)由于所述辐射检测器(3)暴露于所述第二辐射脉冲而生成的第二电脉冲信号，其中，所述x射线设备(1)被配置为比较所述第一电脉冲信号和所述第二电脉冲信号的幅度，并且基于比较的结果生成所述x射线图像。
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