[发明专利]确定样品上所关注图案的一或多个特性有效
申请号: | 201680061870.7 | 申请日: | 2016-08-23 |
公开(公告)号: | CN108352336B | 公开(公告)日: | 2022-07-01 |
发明(设计)人: | M·莱内克;A·帕克;B·达菲;A·库尔卡尼 | 申请(专利权)人: | 科磊股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 张世俊 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供用于确定所关注图案POI的特性的方法及系统。一个系统经配置以获取检验系统在POI实例处产生的输出而不检测所述POI实例处的缺陷。接着使用所述输出以产生所述POI实例的选择。接着所述系统针对所述经选择的POI实例从输出获取子系统获取输出。所述系统还使用从所述输出获取子系统获取的所述输出确定所述POI的特性。 | ||
搜索关键词: | 确定 样品 关注 图案 特性 | ||
【主权项】:
1.一种经配置以确定样品上所关注图案的一或多个特性的系统,其包括:输出获取子系统,其包括至少一能源及一检测器,其中所述输出获取子系统经配置以将由所述能源产生的能量引导到样品而所述检测器检测来自所述样品的能量且响应于所述检测到的能量产生输出;及计算机子系统,其包括经配置以执行来自存储器媒体的指令的一或多个处理器,其中所述计算机子系统经配置用于:获取由检验系统针对所述样品上的所关注图案的至少大多数实例产生且存储于计算机可读存储媒体中的所述检验系统的输出,其中所述检验系统以低于所述输出获取子系统的分辨率的分辨率获取所述输出,且其中与所述输出的特性无关,所述检验系统存储在所述至少大多数实例处获取的所述输出;选择由所述输出获取子系统产生所述输出的所述至少大多数实例中的一或多者,其中所述选择是基于所述检验系统的所述输出的所述特性而执行;获取由所述输出获取子系统针对所述至少大多数实例中的所述所选择的一或多者产生的所述输出,其中在所述至少大多数实例中的所述所选择的一或多者处获取所述输出的所述输出获取子系统的所述分辨率高于所述检验系统的所述分辨率;及基于所述输出获取子系统在所述至少大多数实例中的所述所选择的一或多者处的所述输出确定所述所关注图案的一或多个特性。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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