[发明专利]使用磁共振成像进行设备定位方法有效
| 申请号： | 201680063935.1 | 申请日： | 2016-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN108351391B | 公开（公告）日： | 2021-06-29 |
| 发明（设计）人： | S·克吕格尔 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/28 | 分类号： | G01R33/28;A61B5/055 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 李光颖;王英 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的目的是提供用于在磁共振成像(MRI)引导的介入期间使用MRI进行设备定位的改进的方法。该目的通过一种用于在磁共振成像(MRI)引导的介入期间使用来自感兴趣区域的MRI进行设备定位的方法来实现，其中，所述方法包括以下步骤：从感兴趣区域采集磁共振数据并且重建表示两个相交切片的双平面图像，其中，双平面图像的图像对比度使得其适合用于设备定位，并且其中。切片的厚度使得切片基本上覆盖感兴趣区域；并且检测这两个切片中的设备位置和取向；并且从包括所述感兴趣区域的至少部分的第三切片采集磁共振数据并且重建其解剖图像，其中，所述解剖图像的图像对比度使得其适合用于识别感兴趣解剖结构，其中，第三切片的厚度小于双平面切片的厚度。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 磁共振 成像 进行 设备 定位 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于在磁共振成像(MRI)引导的介入期间使用MRI根据感兴趣区域进行设备定位的方法，其中，所述方法包括以下步骤：‑从所述感兴趣区域采集磁共振数据并且重建表示两个相交切片的双平面图像，其中，所述双平面图像的图像对比度使得所述双平面图像的所述图像对比度适合用于设备定位，并且其中，所述切片的厚度使得所述切片基本上覆盖所述感兴趣区域，其中，通过临时切片编码梯度的应用来选择所述切片；并且‑检测这两个切片中的设备位置和取向；并且‑从包括所述感兴趣区域的至少部分的第三切片采集磁共振数据并且重建所述感兴趣区域的所述至少部分的解剖图像，其中，所述解剖图像的图像对比度使得所述解剖图像的所述图像对比度适合用于识别感兴趣解剖结构，其中，所述第三切片的厚度小于所述双平面切片的厚度。
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