[发明专利]用于自动测试设备的校准装置

摘要

本发明公开了一种示例性自动测试设备(ATE)，其包括：测试仪器，该测试仪器用于输出测试信号以测试受测试装置(DUT)，并且用于基于该测试信号接收响应信号；装置接口板(DIB)，该装置接口板连接至测试仪器，其中DIB包括应用空间，该应用空间具有DUT与其连接的位点，并且其中测试信号和响应信号传送通过该位点；以及DIB上的应用空间中的校准电路。该校准电路包括通信接口，经由该通信接口传送通信，其中通信包括到达该校准电路的控制信号和来自该校准电路的测量信号。校准电路还包括非易失性存储器以储存校准数据，并且基于控制信号可控制该校准电路，以将测试信号从测试仪器传送至DUT，并且将响应信号从DUT传送至测试仪器。

主权项

1.自动测试设备(ATE)，包括：测试仪器，所述测试仪器用于输出测试信号以测试受测试装置(DUT)，并且用于基于所述测试信号接收响应信号；装置接口板(DIB)，所述装置接口板连接至所述测试仪器，所述DIB包括应用空间，所述应用空间具有所述DUT与其连接的位点，所述测试信号和所述响应信号传送通过所述位点；以及校准电路，所述校准电路位于所述DIB上的所述应用空间中，所述校准电路包括通信接口，经由所述通信接口传送通信，所述通信包括到达所述校准电路的控制信号和来自所述校准电路的测量信号，所述校准电路包括非易失性存储器以储存校准数据，并且基于所述控制信号能够控制所述校准电路，以将所述测试信号从所述测试仪器传送至所述DUT，并且将所述响应信号从所述DUT传送至所述测试仪器。