[发明专利]用于在确定能够借助该转数计求取的转数的情况下自识别错误状态的磁转数计有效

专利信息
申请号: 201680072575.1 申请日: 2016-12-07
公开(公告)号: CN108369108B 公开(公告)日: 2021-03-16
发明(设计)人: M·迪格尔;P·丁勒;R·马泰斯;M·舍青格 申请(专利权)人: 莱布尼茨光电技术研究所;霍斯特·西德勒两合公司
主分类号: G01D3/02 分类号: G01D3/02;G01P3/487;G01D5/14;G01D5/244;G01R33/09
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 郭毅
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种用于自识别错误状态的磁转数计,所述磁转数计包括磁畴壁导轨,所述磁畴壁导轨由开放的螺线或自身闭合的多圈环构成,所述螺线或环由GMR层堆叠或具有局部存在的TMR层堆叠的软磁性层构成并且能够被引入到或存在于磁性180°畴壁中,其中,畴壁和/或畴壁空隙的可预给定的一对一的磁化模型被写入,并且所述磁化模型所属的信号电平以信号电平序列的形式以表格形式被存储在第一存储器(9)中,为了求取当前的转数或移动计数,对于每个允许的旋转i(0≤i≤n),所述信号电平能够持续与存储在第二存储器(10)中的信号电平序列的表格形式的期望值模型进行比较,设置第三存储器(12),其中存储有表格形式的的错误期望值模型(12a,12b,12c,12d),所述错误期望值模型用于写入的磁化模型中的所有可能的变化、以及由此引起的信号电平序列与存储在所述第二存储器(10)中的正常信号电平序列的偏差,然而,所述错误期望值模型还能够单义地对应于于转数或移动步进,借助处理单元(11)能够持续地进行在存储在存储器(9)中的所求取的信号电平与存储在存储器(10)和(12)中的信号电平序列之间的比较,所述处理单元输出一对一的旋转值或移动值或不能够修正的错误。
搜索关键词: 用于 确定 能够 借助 转数 求取 情况 识别 错误 状态
【主权项】:
1.一种磁转数计,其用于在确定能够借助所述磁转数计可预给定地求取的由旋转磁性元件(4)产生的转数n、亦或旋转的磁极转子(5a)的能够运动经过的磁极的数量n、亦或能够运动经过的线性的磁性标尺(5b)的能够运动经过的磁极的数量的情况下自识别错误状态,所述磁转数计包括传感器(2),所述传感器包括磁畴壁导轨,这些磁畴壁导轨由开放螺线(20;20a,20b)或自身闭合的多圈环(27)构成,所述开放螺线或自身闭合的多圈环由GMR层堆叠或具有局部存在的TMR层堆叠的软磁性层构成,并且180°磁畴壁能够引入到所述开放螺线或自身闭合的多圈环中,并且所述180°磁畴壁的存在与否能够——通过测量可预给定的螺线区段或环区段的电阻——借助设置在这些畴壁导轨上的接通部(70,80;91,93,95,90,92,94或70,80;93,95,97或71,81;91,93,97‑72,82;99,101,103,105,107或71,81;91,93‑72,82;95,97,99或71,81;91至74,84;95)定位,其中,畴壁(DW)和/或畴壁空隙(DWL)的可预给定的一对一的磁化模型(MM)写入到畴壁导轨中,所述接通部连同所属的、由其检测的畴壁导轨区段连接成独立的、但能够共同读取的惠斯通电桥、亦或半桥,其中,由所述惠斯通电桥、亦或半桥求取的电阻特性作为呈信号电平序列(SPF)形式的信号电平以表格形式全部存储在第一存储器(9)中,为了求取当前的转数或移动计数,对于每个允许的旋转i(0≤i≤n),所述信号电平能够持续地与这些信号电平序列的存储在第二存储器(10)中的呈表格形式的期望值模型(10a,10b,10c和10d)进行比较,设置有第三存储器(12),在其中存储有呈表格形式的的错误期望值模型(12a,12b,12c,12d),所述错误期望值模型用于所写入的磁化模型(MM)中的所有可能的意外的变化以及由此引起的信号电平序列(SPF)与存储在所述第二存储器(10)中的正常信号电平序列的偏差,然而,所述错误期望值模型还能够单义地对应于转数或移动步进,借助处理单元(11)能够持续地进行在存储在存储器(9)中的、所求取的信号电平序列与存储在存储器(10)和(12)中的信号电平序列之间的比较,已经在所述旋转单元(4)的一整转或半转期间或在所述旋转磁极转子(5a)的、亦或所述运动经过的线性的磁性标尺(5b)的移动步进期间,能够作为一对一的旋转‑或移动值或立即作为不能够修正的错误进行输出。
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