[发明专利]用于分析样品和监测光信号检测器的性能的系统和方法

摘要

一种用于测量光信号检测器性能的系统包括光信号检测器，所述光信号检测器包括具有第一光源和第一传感器的第一检测通道。所述第一检测通道被配置来发射并聚焦由所述第一光源在第一检测区处产生的光，并且接收光并将光聚焦在所述第一传感器上。所述系统还包括控制器，所述控制器可操作地耦合到所述光信号检测器并且被配置来基于下列中的至少一项来确定所述光信号检测器的操作性能状态：(i)当第一非荧光表面部分位于所述第一检测区中时聚焦在所述传感器上的光的第一测量特征；以及(ii)当空隙处于所述第一检测区中时聚焦在所述传感器上的光的第二测量特征。所述光信号检测器可为荧光计。

主权项

1.一种测定仪器，其包括：第一荧光计，所述第一荧光计包括第一检测通道，所述第一检测通道具有第一光源和第一传感器，所述第一检测通道被配置来发射并聚焦由所述第一光源在第一检测区处产生的光，并且接收光并将光聚焦在所述第一传感器上；承载器，所述承载器包括第一非荧光表面部分、限定凹部并且被构造来支撑第一容器，其中所述承载器和所述第一荧光计在至少以下位置中可相对于彼此移动：(i)所述第一容器的一部分处于所述第一检测区中的第一位置；(ii)所述承载器的所述第一非荧光表面部分位于所述第一检测区中的第二位置；以及(iii)所述凹部位于所述第一检测区中的第三位置；以及控制器，所述控制器可操作地耦合到所述第一荧光计并且被配置来：基于当所述承载器处于所述第一位置时聚焦在所述第一传感器上的光的第一测量强度来确定包含在所述第一容器内的样品的特征，以及基于下列中的至少一项来确定所述第一荧光计的操作性能状态：(i)当所述承载器处于所述第二位置时聚焦在所述第一传感器上的光的第二测量强度；以及(ii)当所述承载器处于所述第三位置时聚焦在所述第一传感器上的光的第三测量强度。