[发明专利]碳化硅半导体装置有效
申请号: | 201680077297.9 | 申请日: | 2016-01-05 |
公开(公告)号: | CN108475703B | 公开(公告)日: | 2021-05-18 |
发明(设计)人: | 田所千广;田口健介 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | H01L29/872 | 分类号: | H01L29/872 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 何立波;张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 碳化硅衬底(50)设置有第1面(S1)和与第1面(S1)相反的第2面(S2),该碳化硅衬底具有n型区域(10)和p型区域(20),该n型区域(10)将第1面(S1)和第2面(S2)连接,该p型区域(20)与n型区域(10)接触,将第1面(S1)和第2面(S2)连接。第1阳极电极(32)在第1面(S1)之上与n型区域(10)肖特基接合。第1阴极电极(31)在第2面(S2)之上与n型区域(10)欧姆接合。第2阳极电极(41)在第1面(S1)之上与p型区域(20)欧姆接合。第2阴极电极(42)在第2面(S2)之上与p型区域(20)肖特基接合。 | ||
搜索关键词: | 碳化硅 半导体 装置 | ||
【主权项】:
1.一种碳化硅半导体装置(91~95),其具有:碳化硅衬底(50),其设置有第1面(S1)和与所述第1面(S1)相反的第2面(S2),该碳化硅衬底(50)具有n型区域(10)和p型区域(20),该n型区域(10)将所述第1面(S1)和所述第2面(S2)连接,该p型区域(20)与所述n型区域(10)接触,将所述第1面(S1)和所述第2面(S2)连接;第1阳极电极(32),其在所述第1面(S1)之上与所述n型区域(10)肖特基接合;第1阴极电极(31),其在所述第2面(S2)之上与所述n型区域(10)欧姆接合;第2阳极电极(41),其在所述第1面(S1)之上与所述p型区域(20)欧姆接合;以及第2阴极电极(42),其在所述第2面(S2)之上与所述p型区域(20)肖特基接合。
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